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2025年长川科技研究报告：内生外延双轮驱动，测试设备布局全面
- 2025/01/08
- 2041
- 广发证券
杭州长川科技股份有限公司成立于2008年4月，自成立以来始终专注于集成电路测试设备领域，掌握了集成电路测试设备的相关核心技术，先后被认定为软件企业、高新技术企业、浙江省重点企业研究院、省级高新技术企业研究开发中心、杭州市企业高新技术研究开发中心。
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2023年长川科技研究报告：测试新品厚积薄发，内生外延铸平台龙头
- 2023/12/06
- 1676
- 方正证券
国产半导体测试设备先行者。长川科技成立于2008年4月，并于2017年4月在深交所创业板上市，主要从事集成电路专用设备的研发、生产和销售，主要产品包括测试机、分选机、探针台、AOI设备和自动化设备。
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2023年长川科技研究报告：后道测试设备平台化布局，数字测试机快速放量
- 2023/11/01
- 489
- 招商证券
公司逐步达成封测领域设备平台化布局，客户遍布OSAT、芯片设计公司、功率IDM公司等龙头企业。长川科技成立于2008年，先后承担国家科技重大专项（02专项）中两项课题的研发工作。
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2023年长川科技研究报告：后道测试设备平台化布局，数字测试机快速放量
- 2023/09/06
- 779
- 招商证券
公司逐步达成封测领域设备平台化布局，客户遍布OSAT、芯片设计公司、功率IDM公司等龙头企业。长川科技成立于2008年，先后承担国家科技重大专项（02专项）中两项课题的研发工作。公司主要产品包括测试机、分选机、探针台自动化设备及AOI光学检测设备等，已导入长电科技、华天科技、通富微电、士兰微、华润微电子、日月光等多家企业，实现了测试机、分选机的部分进口替代。
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2023年长川科技研究报告 率先突破探针台项目，打破日系厂商垄断进展良好
- 2023/04/18
- 3654
- 太平洋证券
2023年长川科技研究报告，率先突破探针台项目，打破日系厂商垄断进展良好。长川科技成立于2008年4月，成立以来一直致力于提升我国集成电路专用装备技术水平、积极推动集成电路装备业升级。
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2022年长川科技研究报告 国产测试设备龙头，产品矩阵完善
- 2022/12/13
- 1296
- 中泰证券
2022年长川科技研究报告，国产测试设备龙头，产品矩阵完善。长川科技是我国集成电路测试设备龙头厂商之一，主营产品包括测试机、分选机、探针台、AOI设备。公司的测试设备主要应用于芯片设计验证、晶圆制造检测及晶圆成品测试等领域。自2008年4月成立以来，公司一直致力于自主研发和创新。
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2022年半导体检测设备行业研究 半导体检测贯穿全程，长川科技领衔国内市场
- 2022/08/16
- 1172
- 广发证券
2022年半导体检测设备行业研究，半导体检测贯穿全程，长川科技领衔国内市场。半导体检测贯穿半导体设计、晶圆制造、封装三大流程。半导体制造工艺十分复杂，包含成百上千道工序，每一道出错都可能影响芯片功效。为了提高良率、控制成本，需要在重要的工序后借助半导体检测设备对晶圆和芯片的质量进行检测，及时将不符合规范的产品剔除。
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2022年长川科技主营业务及竞争优势分析 长川科技半导体测试设备布局完善
- 2022/06/16
- 3135
- 中信建投证券
2022年长川科技主营业务及竞争优势分析，长川科技半导体测试设备布局完善。公司成立于2008年4月，是一家致力于提升我国集成电路专用装备技术水平、积极推动集成电路装备业升级的高新技术企业。主要从事测试机、分选机、探针台等集成电路专用测试设备的研发、生产和销售。
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2022年长川科技发展现状及主营业务分析 长川科技已掌握多项集成电路测试设备核心技术
- 2022/05/26
- 3458
- 华创证券
2022年长川科技发展现状及主营业务分析，长川科技已掌握多项集成电路测试设备核心技术。半导体行业高景气叠加国产替代东风，公司各项业务快速增长。1）2019H2以来半导体行业周期性上行，在供应链安全的考虑下，设备国产替代成为产业发展重要战略，龙头公司深度受益。
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长川科技研究报告：数字类测试机打开成长空间
- 2021/12/23
- 745
- 东吴证券
长川科技成立于2008年，是国内领先的集成电路测试设备及自动化解决方案供应商，专业从事测试机、分选机、探针台等集成电路专用测试设备的研发、生产和销售。
标签： 集成电路 半导体测试设备 分选机 长川科技 测试机 -
长川科技研究报告：内生外延双轮驱动，产品与周期共振
- 2021/12/21
- 952
- 广发证券
半导体测试是IC生产必不可少的流程。半导体器件尤其是IC设计和制造过程繁杂（为方便表达，以下用IC代之各类半导体器件），可能会导致器件故障，须在生产过程中进行一系列测试以保证产品结构和功能的完好。其基本思路是：IC设计师对可能出现的各类故障建模，得到输入激励和对应的无故障情况下的输出信号，经引脚（pin）将输入激励施加到待测IC（DUT）并产生实际输出，比对实际和期望输出，可判定DUT是否存在某一类故障，多组输入激励后可判定DUT是否合格。
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