精智达在半导体存储测试设备领域的核心技术优势及市场进展如何？

精智达在半导体存储器件检测领域拥有深厚的技术积累，形成了多项领先技术。具体而言，公司在ALPG处理器及编译器、高精度TG时序生成器、高速信号互联技术、电测试接口单元及专用集成电路设计技术、DRAM测试及修复技术、多通道信号自动校准技术、宽温区高均匀度老化炉体控制等方面具备丰富经验。

基于这些技术积累，公司开展了针对半导体存储器后道测试工艺的全覆盖产品研发。产品包括晶圆测试机及探针卡、老化测试设备及老化修复治具板、FT测试机及治具（DAS）等。在市场进展方面，老化测试设备、治具板及探针卡等已经成为客户主要供应商，FT测试机已获客户订单。此外，CP测试机及高速FT测试机的量产样机已进入客户厂内关键验证阶段。

2025年，公司先后获得两笔超三亿元的测试机订单；自主研发的高速FT测试机于同年9月正式交付客户，测试机专用ASIC芯片（最高可实现9Gbps信号输出与校准）已获得客户认可，标志着公司在高端半导体存储测试设备自主化领域取得关键突破。同时，公司持续加大SoC测试机研发投入，将产品线拓展至AI算力芯片测试领域；同时延伸投入NAND FLASH测试设备、高规格Memory Handler设备及探针卡关键技术，满足先进制程的测试需求。